معرفی یک سیگنال تحریک جدید جهت ارتقای قابلیت اطمینان سوئیچ RF MEMS خازنی

در این مقاله سیگنال تحریک modified novel dual pulse به منظور کاهش شارژ دی الکتریک در سوئیچ های خازنی میکروالکترومکانیکی معرفی شده است. شکل موج پیشنهادی تاثیر به سزایی در کاهش شارژ دی الکتریک داشته, به گونه ای که چگالی بار انباشته شده در دی الکتریک را به میزان %7.2 نسبت به شکل موج dual pulse کاهش داده است. این در صورتی است که جدیدترین شکل موج معرفی شده (novel dual pulse) کاهشی به میزان %5 را نشان داده است. بنابراین سوئیچی که توسط شکل موج پیشنهادی تحریک شود طول عمر بیشتری خواهد داشت. برای محاسبه چگالی بار انباشته شده در دی الکتریک از دو مدل ریاضی و مداری زمان گذرا استفاده شده که نتایج به دست آمده از هر دو روش, برتری شکل موج پیشنهادی نسبت به شکل موج هایی که تاکنون برای تحریک این سوئیچ ها معرفی شده اند را تایید می کنند.