Es ist ein alter Hut: Je kleiner ein Leiterquerschnitt ist, desto niedriger der (zerstörungsfrei) maximal mögliche Stromfluß durch diesen Leiter. Wie korrelieren nun hier die abnehmenden Strukturgrößen mit der Stromaufnahme, Spannungsfestigkeit und Wärmeentwicklung der in der jeweiligen Knotenklasse gefertigten integrierten Schaltkreisen (Microchips)? Steigt mit abnehmender Struktur die Ausfallwahrscheinlichkeit an? Und wie sieht es mit der durchschnittlichen Lebensdauer (Langzeit-Alterungsbeständigkeit) aus, ändert sie sich oder ist sie bei allen Strukturgrößen gleich? Hier nur eine Liste von über die Jahre hinweg immer kleiner werdenden Abmessungen zu präsentieren, ohne auf die jeweiligen damit verbundenen Eigenschaften einzugehen, ist ein Bißchen dürftig für eine Enzyklopädie. -- 02:04, 19. Feb. 2022 (CET)