특허의 특성이나 품질들을 측정할 수 있는 도구인 특허지표에 대한 연구는 지식재산에 대한 성과를 여러 측면에서 측정하기 위한 목적으로 시작되었으며, 이는 양적 지표와 질적 지표로 구분할 수 있다.
제1절에서 살펴본 바와 같이, 특허지표(patent indicator)에 대한 개발 및 활용 연구는 지식재산에 대한 성과를 다양한 측면에서 측정하기 위해서 시작되었다. 특허지표란 특허의 특성이나 품질들을 측정할 수 있는 도구로 정의할 수 있다(Schankerman and Pakes 1986). 초기에는 양적인 지표인 특허개수(Patent count)를 이용하여 기술혁신의 성과를 측정하는 연구가 활발하게 진행되어 왔으나, 특허의 질적인 측면 즉 특허가치에 대한 중요성이 부각되면서 질적 가치를 측정하는 다양한 지표들이 개발되었다. 아래 [표 4-2]에서 보는 바와 같이, 특허지표는 단순히 특허건수를 계산하는 양적인 지표와 특허의 품질을 측정하는 질적인 지표로 나뉜다.