공통척도 개발 방안의 절차는 첫째, 국제 공통의 초등 전기, 후기 검사 그리고 필요할 경우 척도화 검사를 개발하고, 초등 전기와 후기의 산출 점수를 기초로 하여 수직척도화 검사자료의 수집 설계가 필요한데, 공통문항과 중첩이 많을 경우는 공통-문항 설계, 반대인 경우에는 척도화 검사 설계를 사용할 수 있다.
공통척도 개발 방안은 다음의 절차로 이루어진다. 첫째, 수학 및 읽기의 각 영역에 대해 발달점수척도를 실제로 개발하기 위해 국제 공통의 초등 전기 및 후기 검사 그리고 필요시 척도화 검사(scaling test)를 각각 개발한다. 초등 전기 및 후기의 두 검사는 다소 상이한 평가내용과 난이도를 가지므로 두 검사에서 산출된 점수들에 기초하여 발달점수척도를 개발하기 위해서는 수직척도화 검사자료 수집 설계가 필요하다. 초등 전기 및 후기의 평가내용이 상당한 정도로 중첩되어 두 검사 간에 공통 문항이 포함될 수 있다고 한다면, 수직척 도화 자료 수집을 위해 공통-문항 설계(common-item design)를 사용할 수 있다. 만약 초등 전기 및 후기의 평가내용이 거의 중첩되지 않고 두 검사에 포함시킬만한 공통 문항을 제작하기 힘들다고 판단된다면, 수직척도화 자료 수집을 위해 척도화 검사 설계(scaling test design)를 사용할 수 있다(Kolen & Brennan, 2014). 이 설계에 따르면 두 검사의 내용을 모두 포함하는 척도화 검사가 별도로 제작될 필요가 있다. 즉, 초등 전기 및 후기의 학생들은 초등 전기 및 후기 검사와 척도화 검사를 모두 치르게 된다.