개별 특허의 상이성은 개별 특허와 인용되는 특허 각각의 기술분야의 차이들의 평균으며 상이성 지수는 대상 특허의 기술분야와 인용된 특허의 기술분야들의 차이의 평균이다.
개별 특허의 상이성은 대상 특허가 속하는 기술분야(기술연관 행렬에서의 열이 지칭하는 기술분야)와 인용되는 특허가 보여주는 기술분야의 거리들의 평균이라고 정의할 수 있다(아래 [공식 8]). 이는 앞서 기술분야 단위의 상이성에서의 스털링지수와 약간 차이가 있는데, 인용되는 특허가 하나로 제한되어 있어서(본 연구의 방법론상), 스털링 지수가 필요로 하는 기술분야간 거리는 정의하는 것이 큰 의미가 없다고 판단되기 때문이다. 즉, 본고의 상이성 지수는 본래의 대상특허가 속하는 기술분야와 이 특허가 인용한 한 개의 특허에서 드러나는 기술분야들의 거리의 평균이다.