디스플레이 공정상 발생하는 기포 및 들뜸 등 불량은 제품 수명 단축의 주요 원인이지만 적합한 검사 기술을 찾지 못해 관련 산업체의 수요 기술로 인식되고 있으므로, 이를 해결할 새로운 검사 기술이 요구된다.
디스플레이 공정상에서 발생하는 기포 및 들뜸 등의 불량은 디스플레이 제품 수명을 단축하는 주요 원인이 되고 있으나 적합한 검사 기술을 찾지 못해서 관련 산업체의 수요 기술로 인식되고 있다. 기존에 X-ray와 초음파를 통한 검사가 있지만, X-ray의 경우 방사선 등의 요인으로 작업자의 거부감이 크고 원장 크기의 검사에서 기포 검출이 불가하다. 초음파 검사는 패널을 물에 담가야 하므로 전수 조사 방법으로는 적합하지 않다. 따라서 앞의 문제점을 해결할 새로운 검사 기술이 요구되는 상황이다. 본 연구실에서는 테라헤르츠 이미징을 통해 디스플레이 패널에 생성된 결함을 관찰하였다(그림 7 참조). 빨간색 화살표 부분에 형성된 디스플레이 패널의 결함이 테라헤르츠 이미지에서 확인되었다. 다만, 분해능은 개선될 필요가 있다.