ISO 8601
การประกาศ ISO 8601 ครั้งแรกเกิดขึ้นเมื่อ พ.ศ. 2531 เป็นการรวบรวมและแทนที่มาตรฐาน ISO ของเก่าซึ่งมีสัญกรณ์ที่แตกต่างกันได้แก่ และ [1] แทนที่ด้วยการแก้ไขครั้งที่สองเมื่อ พ.ศ. 2543 และปัจจุบันเป็นการแก้ไขครั้งที่สาม เผยแพร่เมื่อ 3 ธันวาคม พ.ศ. 2547 มาตรฐานนี้กำกับดูแลโดยคณะกรรมการเทคนิค ISO/TC 154
ลำดับสิ่งประดิษฐ์ของสหรัฐ (ค.ศ. 1946–91)
การศึกษาด้วยกล้องจุลทรรศน์ของการปล่อยอิเล็กตรอนในขีปนาวุธ หรือ (English: Ballistic electron emission microscopy (BEEM)) เป็นเทคนิคสำหรับการศึกษาการขนส่งอิเล็กตรอนในขีปนาวุธผ่านความหลากหลายของวัสดุและการเชื่อมต่อวัสดุ. BEEM เป็นเทคนิคการใช้กล้องจุลทรรศน์แบบสแกนอุโมงค์สามขั้ว (English: scanning tunneling microscopy (STM)) ที่ได้รับการร่วมคิดค้นในปี 1988 ที่ห้องทดลองเครื่องยนต์ไอพ่นในพาซาดีนา แคลิฟอร์เนีย โดย แอล ดักลาส เบลล์และ วิลเลียม ไกเซอร์.[270]